模具cpk數據怎麼計算的

『壹』 cpk計算公式

CPK的計算公式是CPK=Cp*（1-|Ca|）。
1.
CPK是「Combined
Public
Key」的縮寫，中文名為組合公鑰，是一種加密演算法，以很小的資源，生成大規模密鑰。
2.
特性
ECC特性
存儲量與密鑰規模
ECC遵從IEEE標准。
組合矩陣(Combining-matrix)分為私鑰矩陣和公鑰矩陣，分割密鑰序列(Separating-keysequence
)由一定數量的分割密鑰(Separating-key)構成，密鑰對用(ssk,
SPK)標記。
標識密鑰(Identity-key)由標識產生，用(isk,IPK)標記。
組合密鑰(Combined-key)由標識密鑰和分割密鑰復合而成，用(csk,CPK)標記。
復合特性
在橢圓曲線密碼ECC中，任意多對公、私鑰，其私鑰之和與公鑰之和構成新的公、私鑰對。
如果，私鑰之和為：(
r1
+
r2
+
…
+
rm
)
mod
n
=
r
則對應公鑰之和為：
R1
+
R2
+
…
+
Rm=
R
(點加)
那麼，r和R剛好形成新的公、私鑰對。
因為，R
=
R1
+
R2
+
…
+
Rm
=r1G
+
r2G
+…+
rmG
=
(r1
+r2
+…+
rm)
G
=
r
G
3.
分類：標識密鑰、分割鑰匙、組合鑰匙
4.
意義：製程水平的量化反映。製程能力指數：是一種表示製程水平高低的方便方法，其實質作用是反映製程合格率的高低。
5.
計算公式
CPK=Cp*（1-|Ca|）
Ca
(Capability
of
Accuracy)：製程准確度；在衡量「實際平均值」與「規格中心值」之一致性。對於單邊規格，因不存在規格中心，因此不存在Ca；對於雙邊規格，Ca=(ˉx-U)/(T/2)。
Cp
(Capability
of
Precision)：製程精密度；在衡量「規格公差寬度」與「製程變異寬度」之比例。對於單邊規格，只有上限和中心值，Cpu
=
|
USL-ˉx
|
/
3σ
或
只有下限和中心值，Cpl
=
|
ˉx
-LSL
|
/
3σ；對於雙邊規格：Cp=(USL-LSL)
/
6σ=T/6σ
參考資料
網路—CPK：https://ke..com/item/CPK/4333067?fr=aladdin#4_3

『貳』 CPK值如何計算

1. 計算Cpk除收集取樣數據外，還應知曉該品質特性的規格上下限(USL，LSL)，才可順利計算其值。

2. 首先可用Excel的「STDEV」函數自動計算所取樣數據的標准差(σ)，再計算出規格公差(T)，及規格中心值(U). 規格公差T=規格上限-規格下限;規格中心值U=(規格上限+規格下限)

3. 依據公式:Ca=(X-U)/(T/2) ， 計算出製程准確度:Ca值 (X為所有取樣數據的平均值)

4. 依據公式:Cp =T/6σ ， 計算出製程精密度:Cp值

5. 依據公式:Cpk=Cp(1-|Ca|) ， 計算出製程能力指數:Cpk值

6. Cpk的評級標准:(可據此標准對計算出之製程能力指數做相應對策)

7. A++級 Cpk≥2.0 特優 可考慮成本的降低

8. A+ 級 2.0 ＞ Cpk ≥ 1.67 優 應當保持之

9. A 級 1.67 ＞ Cpk ≥ 1.33 良 能力良好，狀態穩定，但應盡力提升為A+級

10. B 級 1.33 ＞ Cpk ≥ 1.0 一般 狀態一般，製程因素稍有變異即有產生不良的危險，應利用各種資源及方法將其提升為 A級

11. C 級 1.0 ＞ Cpk ≥ 0.67 差 製程不良較多，必須提升其能力

12. D 級 0.67 ＞ Cpk 不可接受 其能力太差，應考慮重新整改設計製程。

13. CPK:Complex Process Capability index 的縮寫，是現代企業用於表示製程能力的指標。

14. 製程能力是過程性能的允許最大變化范圍與過程的正常偏差的比值。

15. 當我們的產品通過了GageR&R的測試之後，我們即可開始Cpk值的測試。

16. CPK值越大表示品質越佳。

17. Cpk--過程能力指數

18. CPK= Min[ (USL- Mu)/3s, (Mu - LSL)/3s]

19. Cpk的中文定義為:製程能力指數，是某個工程或製程水準的量化反應，也是工程評估的一類指標。

『叄』 CPK如何計算

CPK= Min[ (USL- Mu)/3σ, (Mu - LSL)/3σ]

Cpk是指過程平均值與產品標准規格發生偏移（ε）的大小，常用客戶滿意的上限偏差值減去平均值和平均值減去下限偏差值中數值小的一個，再除以三倍的西格瑪的結果來表示。

Cpk=MIN(Tu-μ，μ-Tl）/（3*σ)

或者Cpk=（1-k）*Cp，其中k=ε/（T/2）

通常狀況下，質量特性值分布的總體標准差（σ）是未知的，所以應採用樣本標准差（s）來代替。

(3)模具cpk數據怎麼計算的擴展閱讀

應用

1 當選擇製程站別Cpk來作管控時，應以成本做考量的首要因素，還有是其品質特性對後製程的影響度。

2. 計算取樣數據至少應有20~25組數據，方具有一定代表性。

3. 計算Cpk除收集取樣數據外，還應知曉該品質特性的規格上下限(USL，LSL)，才可順利計算其值。

4. 首先可用Excel的「STDEV」函數自動計算所取樣數據的標准差(σ)，再計算出規格公差(T)，及規格中心值(u). 規格公差=規格上限－規格下限；規格中心值=（規格上限+規格下限）/2。

5. 依據公式：Ca=(X-U)/(T/2) ， 計算出製程准確度：Ca值 (x為所有取樣數據的平均值)。

6. 依據公式：Cp =T/6σ ， 計算出製程精密度：Cp值。

7. 依據公式：Cpk=Cp(1-|Ca|) ， 計算出製程能力指數：Cpk值。

『肆』 如何計算CP,CPK

一、cp指數的計算：

Cp=T/（6*σ），其中T=允許最大值（Tu）-允許最小值（Tl）；σ越小，其Cp值越大，則過程技術能力越好。Cp是指過程滿足技術要求的能力，常用客戶滿意的偏差范圍除以六倍的西格瑪的結果來表示。

二、cpk指數的計算：

Cpk=MIN（Tu-μ，μ-Tl）/（3*σ）；或者Cpk=（1-k）*Cp，其中k=ε/（T/2）通常狀況下，質量特性值分布的總體標准差（σ）是未知的，所以應採用樣本標准差（s）來代替。

Cpk是指過程平均值與產品標准規格發生偏移（ε）的大小，常用客戶滿意的上限偏差值減去平均值和平均值減去下限偏差值中數值小的一個，再除以三倍的西格瑪的結果來表示。

(4)模具cpk數據怎麼計算的擴展閱讀：

cp和cpk指數的意義：

工序能力是表示生產過程客觀存在著分散的一個參數。但是這個參數能否滿足產品的技術要求，僅從它本身還難以看出。因此，還需要另一個參數來反映工序能力滿足產品技術要求的程度。這個參數就叫做工序能力指數，表示技術要求和工序能力的比值。

過程能力指數的值越大，表明產品的離散程度相對於技術標準的公差范圍越小，因而過程能力就越高；過程能力指數的值越小，表明產品的離散程度相對公差范圍越大，因而過程能力就越低。

因此，可以從過程能力指數的數值大小來判斷能力的高低。從經濟和質量兩方面的要求來看，過程能力指數值並非越大越好，而應在一個適當的范圍內取值。

製程能力是過程性能的允許最大變化范圍與過程的正常偏差的比值。製程能力研究在於確認這些特性符合規格的程度，以保證製程成品不符規格的不良率在要求的水準之上，作為製程持續改善的依據。CPK值越大表示生產工序過程保持穩定的能力越充足。

『伍』 CPK的計算方法，舉例說明！

CPK：
Complex
Process
Capability
index
是現代企業用於表示製成能力的指標。

CPK=min（（X-LSL/3s），（USL-X/3s））

Cpk——過程能力指數

CPK=
Min[
(USL-
Mu)/3s,
(Mu
-
LSL)/3s]

Cpk應用講議

1.
Cpk的中文定義為：製程能力指數，是某個工程或製程水準的量化反應，也是工程評估的一類指標。

2.
同Cpk息息相關的兩個參數：Ca
,
Cp.

Ca:
製程准確度。
Cp:
製程精密度。

3.
Cpk,
Ca,
Cp三者的關系：
Cpk
=
Cp
*
(
1
-
｜Ca｜)，Cpk是Ca及Cp兩者的中和反應，Ca反應的是位置關系(集中趨勢)，Cp反應的是散布關系(離散趨勢)

4.
當選擇製程站別Cpk來作管控時，應以成本做考量的首要因素，還有是其品質特性對後製程的影響度。

5.
計算取樣數據至少應有20~25組數據，方具有一定代表性。

6.
計算Cpk除收集取樣數據外，還應知曉該品質特性的規格上下限(USL，LSL)，才可順利計算其值。

7.
首先可用Excel的「STDEV」函數自動計算所取樣數據的標准差(σ)，再計算出規格公差(T)，及規格中心值(u).
規格公差＝規格上限－規格下限；規格中心值＝（規格上限+規格下限）/2；

8.
依據公式：Ca=(X-U)/(T/2)
，
計算出製程准確度：Ca值

9.
依據公式：Cp
=T/6σ
，
計算出製程精密度：Cp值

10.
依據公式：Cpk=Cp(1-|Ca|)
，
計算出製程能力指數：Cpk值

11.
Cpk的評級標准：（可據此標准對計算出之製程能力指數做相應對策）

A++級
Cpk≥2.0
特優
可考慮成本的降低

A+
級
2.0
＞
Cpk
≥
1.67
優
應當保持之

A
級
1.67
＞
Cpk
≥
1.33
良
能力良好，狀態穩定，但應盡力提升為A＋級

B
級
1.33
＞
Cpk
≥
1.0
一般
狀態一般，製程因素稍有變異即有產生不良的危險，應利用各種資源及方法將其提升為
A級

C
級
1.0
＞
Cpk
≥
0.67
差
製程不良較多，必須提升其能力

D
級
0.67
＞
Cpk
不可接受
其能力太差，應考慮重新整改設計製程。
PPK：

Pp（Performance
Indies
of
Process）：過程性能指數，定義為不考慮過程有無偏移時，容差范圍除以過程性能。

（該指數僅用來與Cp及Cpk對比，或/和Cp、Cpk一起去度量和確認一段時間內改進的優先次序）

CPU：穩定過程的上限能力指數，定義為容差范圍上限除以實際過程分布寬度上限：

CPL：穩定過程的下限能力指數，定義為容差范圍下限除以實際過程分布寬度下限。

公式中的K是定義分布中心μ與公差中心M的偏離度，μ與M的偏離為ε=|
M-μ|

關於Cpk與Ppk的關系，這里引用QS9000中PPAP手冊中的一句話：「當可能得到歷史的數據或有足夠的初始數據來繪制控制圖時（至少100個個體樣本），可以在過程穩定時計算Cpk。對於輸出滿足規格要求且呈可預測圖形的長期不穩定過程，應該使用Ppk。」

所謂PPK，是進入大批量生產前，對小批生產的能力評價，一般要求≥1.67；而CPK，是進入大批量生產後，為保證批量生產下的產品的品質狀況不至於下降，且為保證與小批生產具有同樣的控制能力，所進行的生產能力的評價，一般要求≥1.33；一般來說，CPK需要藉助PPK的控制界限來作控制。

『陸』 cpk計算公式及解釋是什麼

cpk計算公式及解釋如下：

1、cpk計算公：Cpk=Cp(1-|Ca|)。

2、解釋：Ca(CapabilityofAccuracy)：製程准確度；Cp(CapabilityofPrecision)製程精密度。

注意:計算Cpk時，取樣數據至少應有20組數據，而且數據要具有一定代表性。

Cpk的意義和等級Cpk值處理原則：

pk的意義：製程水平的量化反映;（用一個數值來表達製程的水平） 製程能力指數：是一種表示製程水平高低的方便方法，其實質作用是反映製程合格率的高低。

A+≥1.67無缺點考慮降低成本；A1.33≤Cpk＜1.67狀態良好維持現狀；B1.0≤Cpk＜1.33改進為A級 ；C0.67≤Cpk＜1.0製程不良較多,必須提升其能力；DCpk＜0.67製程能力較差，考慮整改設計製程 。

『柒』 cpk怎樣計算 cpk什麼意思

Cpk——過程能力指數
CPK= Min[ (USL- Mu)/3s,(Mu - LSL)/3s]
Cpk應用講議
1.Cpk的中文定義為：製程能力指數,是某個工程或製程水準的量化反應,也是工程評估的一類指標.
2.同Cpk息息相關的兩個參數：Ca ,Cp.
Ca:製程准確度.Cp:製程精密度.
3.Cpk,Ca,Cp三者的關系：Cpk = Cp * ( 1 - ｜Ca｜),Cpk是Ca及Cp兩者的中和反應,Ca反應的是位置關系(集中趨勢),Cp反應的是散布關系(離散趨勢)
4.當選擇製程站別用Cpk來作管控時,應以成本做考量的首要因素,還有是其品質特性對後製程的影響度.
5.計算取樣數據至少應有20~25組數據,方具有一定代表性.
6.計算Cpk除收集取樣數據外,還應知曉該品質特性的規格上下限(USL,LSL),才可順利計算其值.
7.首先可用Excel的「STDEV」函數自動計算所取樣數據的標准差(σ),再計算出規格公差(T),及規格中心值(u).規格公差＝規格上限－規格下限；規格中心值＝（規格上限+規格下限）/2；
8.依據公式：,計算出製程准確度：Ca值
9.依據公式：Cp = ,計算出製程精密度：Cp值
10.依據公式：Cpk=Cp ,計算出製程能力指數：Cpk值
11.Cpk的評級標准：（可據此標准對計算出之製程能力指數做相應對策）
A++級 Cpk≥2.0 特優 可考慮成本的降低
A+ 級 2.0 ＞ Cpk ≥ 1.67 優 應當保持之
A 級 1.67 ＞ Cpk ≥ 1.33 良 能力良好,狀態穩定,但應盡力提升為A＋級
B 級 1.33 ＞ Cpk ≥ 1.0 一般 狀態一般,製程因素稍有變異即有產生不良的危險,應利用各種資源及方法將其提升為 A級
C 級 1.0 ＞ Cpk ≥ 0.67 差 製程不良較多,必須提升其能力
D 級 0.67 ＞ Cpk 不可接受 其能力太差,應考慮重新整改設計製程.

『捌』 cpk的計算公式

是的，模具1出48個對應A1.A2---A48,A1.A2---A48出32樣件數據，才可以做對
A1.A2---A48
分別做
cpk

『玖』 求cpk計算過程詳細一些謝謝大神

第一種

Cpk的計算公式要先計算Ck(又稱Ca)與Cp，然後才算出Cpk，簡單整理如下：

Ck=(M-X)/(T/2)，M:規格中心值，X:量測數據平均值，T:規格寬度

Cp=T/6σ，T:規格寬度，σ：量測數據的標准差

Cpk=(1-Ck)xCp

第二種

Cpk的計算公式分別使用規格上下限來計算取最小值就是Cpk：

Cpu（管制上限）=(USL-u)/3σ，

USL:規格上限，u:量測數據平均值，σ：量測數據的標准差

Cpl（管制下限）=(u-LSL)/3σ，

LSL:規格下限，u:量測數據平均值，σ：量測數據的標准差

Cpk=min｛Cpl,Cpu｝，

也就是算出Cpu,Cpl後，取兩者中的最小值就是Cpk。

MEAN是平均值

3STDEV是3倍標准差

LEAST是平均值離上限或下限的最小值

最終結果是1.51

數值後面都有標公式

不懂的話再問