如何測量金屬合金成分

『壹』 金屬材料的化學成分如何檢測請專業人士回答

無論是板料、管料、鑄件~他們的化學成分含量都是沒有區別的，化學成分國家有標准。
0Cr18Ni9 不銹鋼可以參考GBT 3280-2007
LY11 鋁合金可以參考GBT 3190-2008
45#鋼 可以參考GBT 3078-82

『貳』 手上有種金屬合金材料 想知道其摩爾質量 求高人提供方法

方法：
1、打光譜：分析合金材料的化學成分和含量百分比
2、查各個化學元素的摩爾質量
3、用容量法測量體積
4、然後通過計算各個元素的摩爾質量X含量百分比的代數和，除體積，既得平均摩爾質量。

『叄』 有什麼方法能檢測金屬物件的化學成分

如果常溫單一金屬可以用測密度法，如果是非常活潑金屬可以觀察與水所應，如果合金可採用與酸反應後分析法

『肆』 金屬材料的化學成分檢驗方法都有哪些

化學成分是決定金屬材料性能和質量的主要因素.因此,標准中對絕大多數金屬材料規定了必須保證的化學成分,有的甚至作為主要的質量、品種指標.化學成分可以通過化學的、物理的多種方法來分析鑒定,目前應用最廣的是化學分析法和光譜分析法,此外,設備簡單、鑒定速度快的火花鑒定法,也是對鋼鐵成分鑒定的一種實用的簡易方法.化學分析法：根據化學反應來確定金屬的組成成分,這種方法統稱為化學分析法.化學分析法分為定性分析和定量分析兩種.通過定性分析,可以鑒定出材料含有哪些元素,但不能確定它們的含量；定量分析,是用來准確測定各種元素的含量.實際生產中主要採用定量分析.定量分析的方法為重量分析法和容量分析法.重量分析法：採用適當的分離手段,使金屬中被測定元素與其它成分分離,然後用稱重法來測元素含量.容量分析法：用標准溶液（已知濃度的溶液）與金屬中被測元素完全反應,然後根據所消耗標准溶液的體積計算出被測定元素的含量.
光譜分析法：各種元素在高溫、高能量的激發下都能產生自己特有的光譜,根據元素被激發後所產生的特徵光譜來確定金屬的化學成分及大致含量的方法,稱光譜分析法.通常藉助於電弧,電火花,激光等外界能源激發試樣,使被測元素發出特徵光譜.經分光後與化學元素光譜表對照,做出分析.火花鑒別法：主要用於鋼鐵,在砂輪磨削下由於摩擦,高溫作用,各種元素、微粒氧化時產生的火花數量、形狀、分叉、顏色等不同,來鑒別材料化學成分（組成元素）及大致含量的一種方法.

『伍』 銅合金成分分析使用什麼方法

當然是使用儀器測啦，美國的手持式合金分析儀DE2000專門針對金屬行業生產，體積小巧，測量精準，銅合金分析只需要幾秒就可以出結果

『陸』 常見檢測金屬元素的主要方法

金屬材料在國內算是非常吃香的，因為它可以靈活運用於各個領域，涉及的范圍也越來越廣，人們的日常生活也慢慢離不開這類材料做出來的生活用品，發展空間巨大。

相信大家都知道什麼是金屬材料，它一般是指工業應用中的合金。我們自然界中大約有70多種純金屬，其中常見的有鐵、銅、鋁、錫、鎳、金、銀、鉛、鋅等等。
合金也是金屬材料的一種，但是它常指的是兩種或兩種以上的金屬或金屬與非金屬結合而成，且具有金屬特性的材料。
金屬材料檢測大家族
金屬材料檢測涉及對黑色金屬、有色金屬、機械設備及零部件等的、還有化學成分分析、、以及精密尺寸測量、無損檢驗、耐腐蝕試驗和環境模擬測試等等。
何為無損檢測？
無損檢測（NDT）是指在不損壞試件的前提下，以物理或化學方法為手段，藉助先進的技術和設備器材，對試件的內部和表面的結構、性質、狀態進行檢查和測試的方法。
射線檢測（RT）、超聲波檢測（UT）、磁粉檢測（MT）和滲透檢測（PT）是開發較早，應用最為廣泛的探測缺陷的方法，稱為大常規無損檢測方法噢。

『柒』 怎樣測定未知合金的成分和含量

正規專業機構：先用XRD確定可能存在的相；然後用DSC分析確定可能的合金成份；再用SEM和EPMA進行微觀分析。XRD(X-ray Diffraction) ，X射線衍射，通過對材料進行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內部原子或分子的結構或形態等信息的研究手段。DSC（Differential Scanning Calorimetry），示差掃描量熱法，這項技術被廣泛應用於一系列應用，它既是一種例行的質量測試和作為一個研究工具。該設備易於校準，使用熔點低銦例如，是一種快速和可靠的方法熱分析示差掃描量熱法(DSC)是在程序控制溫度下，測量輸給物質和參比物的功率差與溫度關系的一種技術。SEM(Scanning Electron Microscope), 掃瞄式電子顯微鏡。工作原理：從電子槍陰極發出的直徑20(m～30(m的電子束，受到陰陽極之間加速電壓的作用，射向鏡筒，經過聚光鏡及物鏡的會聚作用，縮小成直徑約幾毫微米的電子探針。在物鏡上部的掃描線圈的作用下，電子探針在樣品表面作光柵狀掃描並且激發出多種電子信號。這些電子信號被相應的檢測器檢測，經過放大、轉換，變成電壓信號，最後被送到顯像管的柵極上並且調制顯像管的亮度。顯像管中的電子束在熒光屏上也作光柵狀掃描，並且這種掃描運動與樣品表面的電子束的掃描運動嚴格同步，這樣即獲得襯度與所接收信號強度相對應的掃描電子像，這種圖象反映了樣品表面的形貌特徵。EPMA（Electron Probe MicroAnalysis），是電子探針顯微分析技術，利用聚焦電子束與試樣微米至亞微米尺度的區域相互作用，用X射線譜儀對電子激發體積內的元素進行分析的技術。
電子探針儀：EPMA(Electron Probe MicroAnalyzer) (electron probe)
一種電子束顯微分析的儀器，是通過電子束激發試樣微區產生的二次電子、背散射電子、及X射線等信息，進行試樣表面形貌觀察及成分分析。成分分析主要用波譜儀（WDS)，也可以用能譜儀（EDS)。其配置應包括一個能將電子束聚焦成微米、亞微米尺度的電子光學系統（鏡筒）。一台對試樣位置進行觀測和精密定位的光學顯微鏡和一套波譜儀， 也可以附加一套能譜儀。其電子光學系統應包括電子束掃描系統以及一個或多個電子探測器，以便具有掃描電鏡的成像功能。
如果不需要那麼嚴格的話就很簡單了：直接用手持式合金分析儀，動動手指就可以了。該儀器的價格就我接觸過的而言，大概每台在20萬元左右。