① 钢材合金成分怎么检测
金属材料分析测试方法
金属材料的成分分析测试方法不断的发展，由传统的滴定法、分光光度法不断发展到新型的测试方法，如等离子体发射光谱法，火花直读光谱法等，由传统一个一个元素测试，到现在可以同时测试多个元素，效率和准确度不断提高。其不同测试方法的原理及特点如下：
1、分光光度法
分光光度法是一种对金属元素进行定量分析的分析方法，通过测定被测物质的特定波长范围内的吸光度和发光强度，对该物质进行定性和定量分析的方法。具有应用广泛、灵敏度高、选择性好，准确度高、分析成本低等特点，缺点是一次只能分析一个元素。检测仪器包括紫外分光光度计、可见光光度计，红外分光光度计。
2.滴定法
滴定法是用一种标准浓度的试验试剂对溶液中所包含的金属成分进行测试，在金属中成分与试剂充分反应后，就可以使其达到最终的滴定终点。该方法适用于含量在1%以上各种物质的测试。此方法主要缺点是效率不高。
3、原子光谱分析法
原子光谱分析法可以分为原子吸收光谱法和原子发射光谱法，是一种传统的分析金属材料成分的技术，原子吸收光谱法的原理是通过气态状态下基态原子的外层电子对可见光和紫外线的相对应原子共振辐射线的吸收强度来定量分析被测元素含量。该方法特别适合对气态原子吸收光辐射，具有灵敏度高、抗干扰能力强、选择性强、分析范围广及精密度高等优点。但也有缺陷，不能同时分析多种元素，对难溶元素测定时灵敏度不高，在测量一些复杂样品时效果不佳。
原子发射光谱法的原理是通过各元素离子或原子在电或热激发下具有发射出特殊电磁辐射的特性。该法使用发射物来进行定性定量分析元素，可以同时测试多种元素，消耗较少的样品就可以达到测量目的，同时还可以较快的得到测得结果，一般检测整批样品时采用该方法，但较差的精确度是其致命的缺点，且只能分析金属材料的成分，对于大多数非金属成分束手无策。
4、X射线荧光光谱法
X射线荧光光谱法大多数用来测定金属元素，也是一种常见的金属材料成分测定方法。其测试原理是：基态的原子在没有被激发状态下会处于低能态，而一旦被一定频率的辐射线激发就会变成高能态，高能状态下会发射荧光，这种荧光的波长非常特殊，测定出这些X射线荧光光谱线的波长就可以测定出样品的元素种类。把标准样品的谱线强度作为参照比较被测样品的谱线，即可以测出元素的含量。该方法是定性半定量的方法，在金属成分分析中主要作为大概含量的确定。
5. 电感耦合等离子体光谱法
电感耦合等离子体发射光谱法是当前使用最广泛的方法。其原理是利用金属元素受到激发而产生电子跃迁，此跃迁会在谱线上表现出一定强度而进行测定元素及含量，测试范围广且灵敏度高，分析速度快，准确度高，可以在一条标线下成批量样品测试，及同时测试多个元素。
6.火花直读光谱法
火花直读光谱仪是用电弧（或火花）的高温使样品中各元素从固态直接气化并被激发而发射出各元素的特征波长，用光栅分光后，成为按波长排列的“光谱”，这些元素的特征光谱线通过出射狭缝，射入各自的光电倍增管，光信号变成电信号，经仪器的控制测量系统将电信号积分并进行模/数转换，然后由计算机处理，测试出各元素的百分含量。该法准确度高，可进行多元素同时分析，在一次激发和分析中同时获得几十种元素的定性和定量分析结果。简单易行，分析速度快，可在20秒内同时测量合金钢或有色合金的几十种元素含量，实时分析。不消耗昂贵的化学试剂或特种辅料。可以直接对固体样品进行测试。缺点是对样品形状尺寸有一定要求。
7. 碳硫分析
金属材料中尤其是钢材类金属中，碳元素和硫元素是主要的测试元素，而以上的方法都不能直接对碳元素和硫元素的精确定量。因此，碳、硫元素需要用碳硫分析仪进行测试。试样中的碳、硫经过富氧条件下的高温加热，氧化为二氧化碳、二氧化硫气体。该气体经处理后进入相应的吸收池，对相应的红外辐射进行吸收，由探测器转发为信号，经计算机处理输出结果。此方法具有准确、快速、灵敏度高的特点，高低碳硫含量均可使用。
8.氧氮分析
氧氮分析仪是通过氧氮分析仪在惰性气氛下，通过脉冲加热分解试样，由红外检测器和热导检测器分别测定各种钢铁、有色金属和新型材料中氧、氮的含量。具有准确度高，检出限低等特点。
② 钢材化学成分分析仪器包括哪些
1、常量：碳硫快速分析仪、三元素快速分析仪、玻璃器皿、721型可见分光光度计；
2、微量：便携式发射光谱分析仪、原子吸收分光光度计
③ 钢结构用检测钢板材质和强度的仪器是什么能推荐几个吗
检测材质一般是根据材料的化学成分分析，并结构强度检测结果进行推断的。需要版的食品权设备非常复杂，一般单位不具备这样的调协。
强度的检测只需要一台万能试验机，一般是液压操作，拉和压都可以做，价格也不算贵。但将试件加工成规范规定的外形尺寸，还需别的设备，一般都是外协。
④ 跪求 钢材成分分析仪（光谱）的使用说明
光谱仪是指利用折射或衍射产生色散的一类光谱测量仪器。光栅光谱仪是光谱测量中最常用的仪器，基本结构如图1所示。它由入射狭缝S1、准直球面反射镜M1、光栅G、聚焦球面反射镜M2以及输出狭缝S2构成。
衍射光栅是光栅光谱仪的核心色散器件。它是在一块平整的玻璃或金属材料表面（可以是平面或凹面）刻画出一系列平行、等距的刻线，然后在整个表面镀上高反射的金属膜或介质膜，就构成一块反射试验射光栅。相邻刻线的间距d称为光栅常数，通常刻线密度为每毫米数百至数十万条，刻线方向与光谱仪狭缝平行。入射光经光栅衍射后，相邻刻线产生的光程差 ， 为入射角， 为衍射角，则可导出光栅方程：
光栅方程将某波长的衍射角和入射角通过光栅常数d联系起来， 为入射光波长，m为衍射级次，取 等整数。式中的“ ”号选取规则为：入射角和衍射角在光栅法线的同侧时取正号，在法线两侧时取负号。如果入射光为正入射 ，光栅方程变为 。衍射角度随波长的变化关系，称为光栅的角色散特性，当入射角给定时，可以由光栅方程导出
，
复色入射光进入狭缝S1后，经M2变成复色平行光照射到光栅G上，经光栅色散后，形成不同波长的平行光束并以不同的衍射角度出射，M2将照射到它上面的某一波长的光聚焦在出射狭缝S2上，再由S2后面的电光探测器记录该波长的光强度。光栅G安装在一个转台上，当光栅旋转时，就将不同波长的光信号依次聚焦到出射狭缝上，光电探测器记录不同光栅旋转角度（不同的角度代表不同的波长）时的输出光信号强度，即记录了光谱。这种光谱仪通过输出狭缝选择特定的波长进行记录，称为光栅单色仪。
在使用单色仪时，对波长进行扫描是通过旋转光栅来实现的。通过光栅方程可以给出出射波长和光栅角度之间的关系（如图2所示）
，
图2 光栅转动系统示意图
2ψ
转台
衍射光
入射光
光栅
其中， 为光栅的旋转角度， 为入射角和衍射角之和的一半，对给定的单色仪来说 为一常数。
光谱仪是指利用折射或衍射产生色散的一类光谱测量仪器。光栅光谱仪是光谱测量中最常用的仪器，基本结构如图1所示。它由入射狭缝S1、准直球面反射镜M1、光栅G、聚焦球面反射镜M2以及输出狭缝S2构成。
一、光学系统
光谱仪光学系统，如图1所示：M1准光镜、M2物镜、M3转镜、G平面衍射光栅、S1入射狭缝、通过旋转M3选择出射狭缝S2或S3从而选择接收器件类型，出射狭缝为S2则为光电倍增管或硫化铅、钽酸锂、TGS等接收器件；出射狭缝为S3则为CCD接受器件。入射狭缝、出射狭缝均为直狭缝，宽度范围0~2mm连续可调，光源发出的光束进入入射狭缝S1，S1位于反射式准光镜M2的焦面上，通过S1射入的光束经M2反射成平行光束投向平面光栅G上，衍射后的平行光束经物镜M2成像在S2上，或经物镜M2和M3平面成像在S3上。
光源系统为仪器提供工作光源，可选氘灯、钨灯、钠灯、汞灯等各种光源。
二、电子系统
电子系统由电源系统、接收系统、信号放大系统、A/D转换系统和光源系统等部分组成。
电源系统为仪器提供所需的工作电压；接受系统将光信号转换成电信号；信号放大器系统包括前置放大器和放大器两个部分；A/D转换系统将模拟信号转换成数字信号，以便计算机进行处理。
三、软件系统
WDS系列多功能光栅光谱仪的控制和光谱数据处理操作均由计算机来完成。
软件系统主要功能有：仪器系统复位、光谱扫描、各种动作控制、测量参数设置、光谱采集、光谱数据文件管理、光谱数据的计算等。
WDS系列多功能光栅光谱仪器系统操作软件根据型号不同和接收仪器不的同配有PMT操作系统和CCD操作系统。每一系统均可采用快捷键和下拉菜单来进行仪器操作，下面分别进行说明。
3.1PMT操作系统
3.1.1 开机与系统复位
确认光栅光谱仪已经正确连接并打开电源。
在WONDOWS操作系统中，从“开始”——“程序”——“WDS系列光栅光谱仪”中执行相应的PMT可执行程序，或双击桌面上的快捷方式，启动系统操作程序。
在系统初始化过程后应有波长复位正确的提示，然后按“确定”进入系统操作主界面。
3.1.2菜单栏的使用
系统菜单栏包括文件、测量方式、数据处理、系统操作和帮助五项内容。
3.1.2.1文件
文件菜单中包括新建、打开、存盘、参数设置、打印和退出系统等项。其中，新建，即清除当前图谱文件并重新建立一个图谱文件。
打开，即打开已存图谱文件，可根据系统提示选择文件所在路径。
存盘，即保存当前图谱文件，可根据系统提示选择文件保存路径。
参数设置，即根据测量需对系统参数进行相应的参数设置。
在测量模式一栏中，可选择能量或透过率测量，并在系统允许的范围内，对起始刻度和终止刻度进行设置。能量（0~4095），透过率（0~100）。
在扫描速度一栏中，可对扫描记录数据的速度进行相应的设置，当样品未知时，一般可选择快速或中速，对于不同的仪器型号会稍有所不同。
在扫描方式一栏中，可选择测量为连续方式或重复方式，或在当前波长对时间进行记录。
在波长范围一栏中，可根据需要在系统允许的波长范围内对其进行相应的设置。系统允许的波长范围根据仪器型号的不同有所不同。
在光谱带宽一栏中，系统设置为手动，即根据测量需要对出射、入射狭缝宽度进行相应的设置。
系统默认增益为1，若信号较弱，可适当选择增益（1~4）。
打印，即根据提示对话框，打印当前图谱。
退出系统，当结束系统测量，选择此项，根据提示退出光栅光谱仪操作系统。
3.1.2.2 测量方式
测量方式菜单中包括光谱扫描、基线扫描和时间扫描等项。其中，
光谱扫描，即根据当前参数设置对当前光谱进行记录。
基线扫描，当选择了透过率测量方式时，在光谱扫描之前首先要对系统进行基线扫描以记录系统当前状态，在进行基线扫描时，状态栏显示值一般应在0~4095之间。
时间扫描，即在当前参数设置情况下，对当前波长进行时间记录。
3.1.2.3 数据处理
在数据处理菜单中包括刻度扩展、局部放大、峰值检索、峰值显示、读取数据、光谱平滑、光谱微分和光谱运算等项。其中，
刻度扩展，指对当前横、纵坐标的起始、终止刻度在系统允许的范围内进行相应的放大或缩小。点击此项功能将弹出如图6所示对话框。
局部放大，指对当前图谱文件进行部分放大。
峰值检索，指读当前图谱文件中一定范围内的峰值进行检索并将结果显示出来。点击此项弹出如图7所示对话框，提示输入峰值高度，输入峰值高度后，点击确定即可。
读取数据，即读取当前图谱的横、纵坐标数据，可选择列表方式或光标读取方式。
光谱平滑，点击此项系统将对当前图谱文件进行平滑处理，以去掉噪声或过小的峰值，来方便图谱的读取或辨别。
光谱微分，点击此项功能可对当前图谱进行一至四次微分。
光谱运算，点击此项系统弹出提示对话框，提示选择当前图谱与任意常数的加、减、乘、除四则运算。
3.1.2.4 系统操作
系统操作菜单中主要包括波长检索、波长校正、系统复位和系统设置等项。其中，
波长检索，点击此项系统弹出如图8所示波长检索对话框，提示输入目的波长，波长范围为系统允许波长范围内的任意波长值。
波长线性校正，当对光栅光谱议仪器系统检测发现系统波长值与准确波长不对应时，可通过此项对系统波长进行校正，在对话框中输入系统值与实际波长值的差值，点击确定即可。
系统复位，当仪器在运行过程中发现有不正常现象出现时，可点击此项对系统进行重新复位，以消除影响。
系统设置，即系统调试时用到的一些数据，用户不可更改。
3.1.2.5 帮助
帮助菜单中提供了厂商及仪器版本信息。
3.1.3 工具栏的使用
工具栏中主要包括新建、打开、保存、打印、光谱扫描、参数设置、波长检索、读取数据、峰值检索、刻度扩展、屏幕刷新和停止等项。其中，
新建、打开、保存、打印、和参数设置等项包含于菜单栏的“文件”菜单中；光谱扫描包含于菜单栏的“测量方式”菜单中；波长检索包含于菜单栏中的“系统操作”菜单中；读取数据、峰值检索和刻度扩展包含于菜单栏中的“数据处理”菜单中。
屏幕刷新，即刷新当前图谱屏幕显示以清除数据标注的字符。
停止，点击此项，系统将停止当前操作。
3.1.4 退出系统与关机
当系统测试结束后，将出射、入射狭缝调节至0.1mm左右，若有负高压系统，则将负高压调节至零。点击菜单栏中“文件\退出系统”，按照提示关闭电源退出仪器操作系统。
3.2 CCD操作系统
3.2.1 开机于系统复位
确认光栅光谱仪已经正确连接并打开电源。
在WINDOWS操作系统中，从“开始”——“程序”——“WDS系列光栅光谱仪”中执行相应的CCD可执行程序，或双击桌面上的快捷方式，启动系统操作程序。
在系统初始化过程后应有波长复位正确的提示，然后按“确定”进入系统操作主界面。
3.2.2 菜单栏中使用
系统菜单栏中包括文件、采集、数据处理、系统操作和帮助五项内容。下面分别进行介绍。
3.2.2.1 文件
文件菜单中包括新建、打开、存盘、测量参数、打印和退出系统等项。其中，
新建，即清除当前图谱文件并重新建立一个图谱文件。
打开，即打开已存图谱文件，可根据系统提示选择文件所在路径。
存盘，即保存当前图谱文件，可根据系统提示选择文件保存路径。
测量参数，即根据测量需对系统参数进行相应的设置，通常情况下采取默认值即可。
打印，即根据提示对话框，打印当前图谱。
退出系统，当结束系统测量，选择此项，根据提示退出光栅光谱仪操作系统。
3.2.2.2 采集
采集菜单中包括一次采集、连续采集和门值设置等项。其中，
一次采集，即在当前中心波长对当前光谱进行一次性记录。
连续采集，即在当前中心波长对当前光谱进行连续性记录，时时刷新。
门值设置，系统默认门值设置为-1，当要去除较小的峰值时，可通过设置门值来进行限制。
3.2.2.3 数据数理
数据处理菜单中包括读取数据、光谱平滑、峰值检索、刻度扩展、显示光谱参数、像元波长转换和谱线运算等项。其中，
读取数据，即读取当前图谱的横、纵坐标数据，可选择列表方式或光标读取方式。
光谱平滑，点击此项系统将对当前图谱文件进行平滑处理，以去掉噪声火过小的峰值，来方便图谱的读取或辨别。
峰值检索，指读当前图谱文件中一定范围内的峰值进行检索并将结果显示出来。点击此项弹出对话框，提示输入峰值高度，输入峰值高度后，点击确定即可。
刻度扩展，指对当前横、纵坐标的起始、终止刻度在系统允许的范围内进行相应的放大或缩小。点击此项功能将弹出对话框。
显示光谱参数，即显示当前光谱的测量参数。
像元波长转换，即选择将系统操作界面的横坐标用像元或波长的方式显示。
谱线运算，即对当前光谱的与常数加、减、乘、除四则运算。
3.2.2.4 系统操作
系统操作菜单中主要包括检索仪器中心波长、检索谱线中心波长、零点波长校正、系统参数设置和系统复位等项。其中，
检索仪器中心波长，即将操作系统界面显示的中心波长检索至目的波长处。
检索谱线中心波长，即若当前显示的图谱文件中心波长非仪器当前中心波长时，用此项功能将仪器中心波长检索值谱线中心波长。
零点波长校正，当对光栅光谱仪器系统检测发现系统波长值与准确波长不对应时，可通过此项对系统波长进行校正，在对话框中输入系统值与实际波长值的差值，点击确定即可。
系统参数设置，即系统调试时用到的一些数据，用户不可更改。
系统复位，当仪器在运行过程中发现有不正常现象出现时，可点击此项对系统进行重新复位，以消除影响。
3.2.3 工具栏的使用
工具栏中主要包括新建、打开、保存、打印、波长检索、参数设置、读取数据、峰值检索、刻度扩展、放大、缩小和屏幕刷新等项。其中，
新建、打开、保存、打印和参数设置等项包含于菜单栏的“文件”菜单中；波长检索包含于菜单栏中的“系统操作”菜单中；读取数据、峰值检索和刻度扩展包含于菜单栏中的“数据处理”菜单中；一次采集和连续采集包含于“采集”菜单中。
屏幕刷新，即刷新当前图谱屏幕显示以清除数据标注的字符。
停止，点击此项，系统将停止当前操作。
3.2.4 退出系统与关机
当系统测试结束后，将入射狭缝调节至0.1mm左右，点击菜单栏中“文件\退出系统”，按照提示关闭电源退出仪器操作系统。
四、实验内容和步骤：
1、开机之前，请认真检查光栅光谱仪的各个部分（单色仪主机、电控箱、接受单元、计算机、）连线是否正确，保证准确无误。
为了保证仪器的性能指标和寿命，在每次使用完毕，将入射狭缝宽度、出射狭缝宽度分别调节到0.1mm左右。
在仪器系统复位完毕后，根据测试和实验的要求分别调节入射狭缝宽度、出射狭缝宽度到合适的宽度。
2、接收单元
WDS系列多功能光栅光谱仪根据仪器型号的不同配有光电倍增管、CCD、硫化铅、钽酸锂、TGS等不同接收单元。
注意，若采用光电倍增管作为接收单元，不一定要在光电倍增管加有负高压的情况下，使其暴露在强光下（包括自然光）。在使用结束后，一定要注意调节负高压旋钮使负高压归零，然后再关闭电控箱。
3、狭缝调节
仪器的入射狭缝和出射狭缝均为直狭缝，宽度范围0~2mm连续可调，顺时针旋转为狭缝宽度加大，反之减小。每旋转一周狭缝宽度变化0.5mm，最大调节宽度为2mm。为延长使用寿命，狭缝宽度调节时应注意最大不要超过2mm。仪器测量完毕或平常不使用时，狭缝最好调节到0.1mm05mm左右。
4、电控箱的使用
电控箱包括电源、信号放大、控制系统和光源系统（氘灯和钨灯可选件，不包括在光谱仪器的标准配置中）。在运行仪器操作软件前一定要确认所有的连接线正确连接且已经打开电控箱的开关。
5、程序安装（如已安装好，则跳过）
仪器的参数设置和测量均由计算机来完成。因此在使用前必须先安装WDS系列多功能光栅光谱仪器中文操作软件。
将随仪器配备的WDS系列多功能光栅光谱仪器操作软件系统安装光盘放入光驱中，执行其中的SETUP程序，即开始进行安装，安装过程大约一分钟。
系统安装结束后，将自动在WINDOWS系统的“开始”—“程序”中建立“WDS系列光栅光谱仪”一项。执行其中的可执行程序即可运行操作系统。
6、采用标准光谱灯进行波长校准
光栅光谱仪由于运输过程中震动等各种原因，可能会使波长准确度产生偏差，因此在第一次使用前用已知的光谱线来校准仪器的波长准确度。在平常使用中，也应定期检查仪器的波长准确度。
检查仪器波长准确度可用氘灯、钠灯（标准值为589.0nm和589.6nm）、汞灯以及其它已知光谱线的来源来进行。
6.1 用氘灯谱线校准
利用氘灯的两根谱线的波长值（标准值为486.0nm和656.0nm）来进行校准仪器。根据能量信号大小手工调节入射狭缝和出射狭缝，扫描氘灯光谱。如果波长有偏差，用“零点波长校正”功能进行校正。
6.2 用钠灯谱线校准
利用钠灯的两根谱线的波长值（标准值为589.0nm和589.6nm）来进行校准仪器。根据能量信号大小手工调节入射狭缝和出射狭缝，扫描钠灯光谱。如果波长有偏差，用“零点波长校正”功能进行校正。
6.3 用汞灯谱线校准
利用汞灯的五根谱线的波长值（标准值为404.7nm、435.8nm、546.1nm、577.0nm、579.0nm）来进行校准仪器。根据能量信号大小手工调节入射狭缝和出射狭缝，扫描汞灯光谱。如果波长有偏差，用“波长线性校正”功能进行校正。
7、分别扫描不同光源的光谱
调节光源，使其在单色义的波长范围内有最大的输出。根据测量对系统参数进行相应的设置。根据测量学要对出射、入射狭缝宽度进行相应的设置。按“3 软件系统”进行操作。
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⑤ 什么仪器可以快速分析金属化合物、混合物粉末中的金属含量
金属成分分析仪是采用XRF（荧光光谱分析）原理，对金属材料成分进行快速检测的仪器。由于X射线波长很短，因此是不可见的。但它照射到某些化合物如磷、铂氰化钡、硫化锌镉、钨酸钙等时，由于电离或激发使原子处于激发状态，原子回到基态过程中，由于价电子的能级跃迁而辐射出可见光或紫外线，这就是荧光。X射线使物质发生荧光的作用叫荧光作用，荧光强弱与X射线量成正比。该仪器能够快速分析金属材料成分及含量。
主要功能
可用于检测碳钢中的铬含量，检测精度可达到0.03%的含量 - 用于评估流速促进型腐蚀(FAC)的情况。
可适应高达800° F的检测温度。
可用于分析铁基合金、镍基合金、钴基合金、铜基合金、钛基合金、混杂合金。
可以十分有把握地识别各种复杂的合金，例如304与321， P91与9铬，7级钛与纯钛。
对6061/6063铝合金具有非凡的识别能力与分析效果。
主要优点：
便捷，友好的软件界面：三种操作模式选择，化学分析，等级鉴定和快速合格/不合格分类；
设计：尖嘴部分的设计符合人体工学，便于使用在一些很难测试的地方或焊接点；
通用性：交流电源，便利的操作平台，并可升级到个人电脑的桌面；
智能分析：对不规则或很小的样品测试进行自动补偿，包括焊接点的细条、缝、拐角；
快速：2-3秒内身份等级鉴定；
高效：无资源消耗及防止扩散费用，小型X-射线管技术消除了对付放射性材料的费用和麻烦；
美国伊诺斯公司是一家专业生产和制造通用型和高性能的便携式X-射线荧光分析仪(XRF)的全球知名公司。Alpha系列分析仪为目前市场上提供体积最小、分析速度最快、功能最多、精度最高的对材料进行可靠性鉴别(PMI)和确认的便携式多用途掌上型X射线荧光光谱分析仪，该分析仪可适用于任何场所，从而确保材料质量，确保材料无放射性， 在对几种常见的合金进行分析时，测试时间可持续20秒钟。快速分析持续测试间是2至3秒。该分析仪重量轻（1.6 kg），操作简单，一键式按钮、长时间工作无疲劳感，可适用于-10°C至+50°C任何场所。该分析仪带有手握把和可以延伸的探头，因此可以用来探测管道内部、焊缝、法兰及其它平常难以接触的位置的合金材料。
主要特点编辑
合金分析仪的主要特点：
1.它使用极小的X射线管代替放射性同位素来解决更换资源和放射性扩散的问题。
2.无危险原料限制，可以应用到任何地方或者随意运输。
3.合金分析仪具有小型的电脑软件平台，对合金分析非常灵活。用户可自编辑升级的元数库，用户可自定义的分析和分类方法，多种数据输入，直接下载结果到数据库及扩展程序。X-射线管、小型电脑软件，高分辩探测器使合金分析仪成为最先进，最高效，操作最简单的合金分析系统。
4.合金分析仪能够记忆所有元素的光谱，这个强大的分析仪能够解决最困难的分析问题，同时它又是一个全天候直观、快速的合金分析仪。
智能光束 (SmartBeam)技术：
智能光束 (SmartBeam)技术既X射线管专门技术和多光束过滤技术，使合金分析仪达到非凡的稳定性、检测速度和使用寿命并具有极好的升级潜力。智能分析使其对不规则或很小的样品测试进行自动补偿，包括焊接点的细条、缝、拐角。选用智能光束技术Ti ,V 精度可达 0.05-0.5%。
复杂合金等级的鉴定：
可用于鉴定数千个不同的合金等级。标准库包含了250种合金，用户可自定义300种合金，可根据各种合金的通用名称、统一标准编号（UNS）、美国机械工程师协会编号（ASME）、以及军事规范等各种属性进行检索。
尖端PDA技术：
标准合金元素：
21种标准元素 Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Zr, Nb, Mo, Hf, W, Ta, Re, Pb, Ag, Sn, Bi, & Sb。Innov-X ALPHA-2000合金分析仪所配置的标准元素还可以增加或更换。
合金家族：
铁合金系列：不锈钢、铬/钼合金钢、低合金钢；
镍基合金系列：镍合金、镍/钴超合金；
钴基合金系列：
钛基合金系列：
铜基系列：青铜、黄铜、铜镍合金；
高温合金：钼钨合金；
铝合金
⑥ 金属含量检测的仪器叫什么
应该叫金属光谱分析仪吧。在工作过的老厂见过，进口的，价格可能不菲吧。
⑦ 光谱分析仪可以测试钢材化学成分吗
直读光谱仪就是做金属中化学成分分析的，主流产品为CCD全谱直读光谱仪。稳定速度快，分析准确，扩展性能优越。
⑧ 钢材的检测项目和使用仪器
检测项目：拉伸试验和冷弯试验
使用仪器：千分尺、游标卡尺、钢板尺、试验机、标距打点机
⑨ 各位大神，请问检测金属材料元素成分的仪器叫什么名字
材料检测有很多仪器，常见的有XRD, TEM, SEM, EDS