① 鋼材合金成分怎麼檢測
金屬材料分析測試方法
金屬材料的成分分析測試方法不斷的發展，由傳統的滴定法、分光光度法不斷發展到新型的測試方法，如等離子體發射光譜法，火花直讀光譜法等，由傳統一個一個元素測試，到現在可以同時測試多個元素，效率和准確度不斷提高。其不同測試方法的原理及特點如下：
1、分光光度法
分光光度法是一種對金屬元素進行定量分析的分析方法，通過測定被測物質的特定波長范圍內的吸光度和發光強度，對該物質進行定性和定量分析的方法。具有應用廣泛、靈敏度高、選擇性好，准確度高、分析成本低等特點，缺點是一次只能分析一個元素。檢測儀器包括紫外分光光度計、可見光光度計，紅外分光光度計。
2.滴定法
滴定法是用一種標准濃度的試驗試劑對溶液中所包含的金屬成分進行測試，在金屬中成分與試劑充分反應後，就可以使其達到最終的滴定終點。該方法適用於含量在1%以上各種物質的測試。此方法主要缺點是效率不高。
3、原子光譜分析法
原子光譜分析法可以分為原子吸收光譜法和原子發射光譜法，是一種傳統的分析金屬材料成分的技術，原子吸收光譜法的原理是通過氣態狀態下基態原子的外層電子對可見光和紫外線的相對應原子共振輻射線的吸收強度來定量分析被測元素含量。該方法特別適合對氣態原子吸收光輻射，具有靈敏度高、抗干擾能力強、選擇性強、分析范圍廣及精密度高等優點。但也有缺陷，不能同時分析多種元素，對難溶元素測定時靈敏度不高，在測量一些復雜樣品時效果不佳。
原子發射光譜法的原理是通過各元素離子或原子在電或熱激發下具有發射出特殊電磁輻射的特性。該法使用發射物來進行定性定量分析元素，可以同時測試多種元素，消耗較少的樣品就可以達到測量目的，同時還可以較快的得到測得結果，一般檢測整批樣品時採用該方法，但較差的精確度是其致命的缺點，且只能分析金屬材料的成分，對於大多數非金屬成分束手無策。
4、X射線熒光光譜法
X射線熒光光譜法大多數用來測定金屬元素，也是一種常見的金屬材料成分測定方法。其測試原理是：基態的原子在沒有被激發狀態下會處於低能態，而一旦被一定頻率的輻射線激發就會變成高能態，高能狀態下會發射熒光，這種熒光的波長非常特殊，測定出這些X射線熒光光譜線的波長就可以測定出樣品的元素種類。把標准樣品的譜線強度作為參照比較被測樣品的譜線，即可以測出元素的含量。該方法是定性半定量的方法，在金屬成分分析中主要作為大概含量的確定。
5. 電感耦合等離子體光譜法
電感耦合等離子體發射光譜法是當前使用最廣泛的方法。其原理是利用金屬元素受到激發而產生電子躍遷，此躍遷會在譜線上表現出一定強度而進行測定元素及含量，測試范圍廣且靈敏度高，分析速度快，准確度高，可以在一條標線下成批量樣品測試，及同時測試多個元素。
6.火花直讀光譜法
火花直讀光譜儀是用電弧（或火花）的高溫使樣品中各元素從固態直接氣化並被激發而發射出各元素的特徵波長，用光柵分光後，成為按波長排列的「光譜」，這些元素的特徵光譜線通過出射狹縫，射入各自的光電倍增管，光信號變成電信號，經儀器的控制測量系統將電信號積分並進行模/數轉換，然後由計算機處理，測試出各元素的百分含量。該法准確度高，可進行多元素同時分析，在一次激發和分析中同時獲得幾十種元素的定性和定量分析結果。簡單易行，分析速度快，可在20秒內同時測量合金鋼或有色合金的幾十種元素含量，實時分析。不消耗昂貴的化學試劑或特種輔料。可以直接對固體樣品進行測試。缺點是對樣品形狀尺寸有一定要求。
7. 碳硫分析
金屬材料中尤其是鋼材類金屬中，碳元素和硫元素是主要的測試元素，而以上的方法都不能直接對碳元素和硫元素的精確定量。因此，碳、硫元素需要用碳硫分析儀進行測試。試樣中的碳、硫經過富氧條件下的高溫加熱，氧化為二氧化碳、二氧化硫氣體。該氣體經處理後進入相應的吸收池，對相應的紅外輻射進行吸收，由探測器轉發為信號，經計算機處理輸出結果。此方法具有準確、快速、靈敏度高的特點，高低碳硫含量均可使用。
8.氧氮分析
氧氮分析儀是通過氧氮分析儀在惰性氣氛下，通過脈沖加熱分解試樣，由紅外檢測器和熱導檢測器分別測定各種鋼鐵、有色金屬和新型材料中氧、氮的含量。具有準確度高，檢出限低等特點。
② 鋼材化學成分分析儀器包括哪些
1、常量：碳硫快速分析儀、三元素快速分析儀、玻璃器皿、721型可見分光光度計；
2、微量：攜帶型發射光譜分析儀、原子吸收分光光度計
③ 鋼結構用檢測鋼板材質和強度的儀器是什麼能推薦幾個嗎
檢測材質一般是根據材料的化學成分分析，並結構強度檢測結果進行推斷的。需要版的食品權設備非常復雜，一般單位不具備這樣的調協。
強度的檢測只需要一台萬能試驗機，一般是液壓操作，拉和壓都可以做，價格也不算貴。但將試件加工成規范規定的外形尺寸，還需別的設備，一般都是外協。
④ 跪求 鋼材成分分析儀（光譜）的使用說明
光譜儀是指利用折射或衍射產生色散的一類光譜測量儀器。光柵光譜儀是光譜測量中最常用的儀器，基本結構如圖1所示。它由入射狹縫S1、準直球面反射鏡M1、光柵G、聚焦球面反射鏡M2以及輸出狹縫S2構成。
衍射光柵是光柵光譜儀的核心色散器件。它是在一塊平整的玻璃或金屬材料表面（可以是平面或凹面）刻畫出一系列平行、等距的刻線，然後在整個表面鍍上高反射的金屬膜或介質膜，就構成一塊反射試驗射光柵。相鄰刻線的間距d稱為光柵常數，通常刻線密度為每毫米數百至數十萬條，刻線方向與光譜儀狹縫平行。入射光經光柵衍射後，相鄰刻線產生的光程差 ， 為入射角， 為衍射角，則可導出光柵方程：
光柵方程將某波長的衍射角和入射角通過光柵常數d聯系起來， 為入射光波長，m為衍射級次，取 等整數。式中的「 」號選取規則為：入射角和衍射角在光柵法線的同側時取正號，在法線兩側時取負號。如果入射光為正入射 ，光柵方程變為 。衍射角度隨波長的變化關系，稱為光柵的角色散特性，當入射角給定時，可以由光柵方程導出
，
復色入射光進入狹縫S1後，經M2變成復色平行光照射到光柵G上，經光柵色散後，形成不同波長的平行光束並以不同的衍射角度出射，M2將照射到它上面的某一波長的光聚焦在出射狹縫S2上，再由S2後面的電光探測器記錄該波長的光強度。光柵G安裝在一個轉台上，當光柵旋轉時，就將不同波長的光信號依次聚焦到出射狹縫上，光電探測器記錄不同光柵旋轉角度（不同的角度代表不同的波長）時的輸出光信號強度，即記錄了光譜。這種光譜儀通過輸出狹縫選擇特定的波長進行記錄，稱為光柵單色儀。
在使用單色儀時，對波長進行掃描是通過旋轉光柵來實現的。通過光柵方程可以給出出射波長和光柵角度之間的關系（如圖2所示）
，
圖2 光柵轉動系統示意圖
2ψ
轉台
衍射光
入射光
光柵
其中， 為光柵的旋轉角度， 為入射角和衍射角之和的一半，對給定的單色儀來說 為一常數。
光譜儀是指利用折射或衍射產生色散的一類光譜測量儀器。光柵光譜儀是光譜測量中最常用的儀器，基本結構如圖1所示。它由入射狹縫S1、準直球面反射鏡M1、光柵G、聚焦球面反射鏡M2以及輸出狹縫S2構成。
一、光學系統
光譜儀光學系統，如圖1所示：M1准光鏡、M2物鏡、M3轉鏡、G平面衍射光柵、S1入射狹縫、通過旋轉M3選擇出射狹縫S2或S3從而選擇接收器件類型，出射狹縫為S2則為光電倍增管或硫化鉛、鉭酸鋰、TGS等接收器件；出射狹縫為S3則為CCD接受器件。入射狹縫、出射狹縫均為直狹縫，寬度范圍0~2mm連續可調，光源發出的光束進入入射狹縫S1，S1位於反射式准光鏡M2的焦面上，通過S1射入的光束經M2反射成平行光束投向平面光柵G上，衍射後的平行光束經物鏡M2成像在S2上，或經物鏡M2和M3平面成像在S3上。
光源系統為儀器提供工作光源，可選氘燈、鎢燈、鈉燈、汞燈等各種光源。
二、電子系統
電子系統由電源系統、接收系統、信號放大系統、A/D轉換系統和光源系統等部分組成。
電源系統為儀器提供所需的工作電壓；接受系統將光信號轉換成電信號；信號放大器系統包括前置放大器和放大器兩個部分；A/D轉換系統將模擬信號轉換成數字信號，以便計算機進行處理。
三、軟體系統
WDS系列多功能光柵光譜儀的控制和光譜數據處理操作均由計算機來完成。
軟體系統主要功能有：儀器系統復位、光譜掃描、各種動作控制、測量參數設置、光譜採集、光譜數據文件管理、光譜數據的計算等。
WDS系列多功能光柵光譜儀器系統操作軟體根據型號不同和接收儀器不的同配有PMT操作系統和CCD操作系統。每一系統均可採用快捷鍵和下拉菜單來進行儀器操作，下面分別進行說明。
3.1PMT操作系統
3.1.1 開機與系統復位
確認光柵光譜儀已經正確連接並打開電源。
在WONDOWS操作系統中，從「開始」——「程序」——「WDS系列光柵光譜儀」中執行相應的PMT可執行程序，或雙擊桌面上的快捷方式，啟動系統操作程序。
在系統初始化過程後應有波長復位正確的提示，然後按「確定」進入系統操作主界面。
3.1.2菜單欄的使用
系統菜單欄包括文件、測量方式、數據處理、系統操作和幫助五項內容。
3.1.2.1文件
文件菜單中包括新建、打開、存檔、參數設置、列印和退出系統等項。其中，新建，即清除當前圖譜文件並重新建立一個圖譜文件。
打開，即打開已存圖譜文件，可根據系統提示選擇文件所在路徑。
存檔，即保存當前圖譜文件，可根據系統提示選擇文件保存路徑。
參數設置，即根據測量需對系統參數進行相應的參數設置。
在測量模式一欄中，可選擇能量或透過率測量，並在系統允許的范圍內，對起始刻度和終止刻度進行設置。能量（0~4095），透過率（0~100）。
在掃描速度一欄中，可對掃描記錄數據的速度進行相應的設置，當樣品未知時，一般可選擇快速或中速，對於不同的儀器型號會稍有所不同。
在掃描方式一欄中，可選擇測量為連續方式或重復方式，或在當前波長對時間進行記錄。
在波長范圍一欄中，可根據需要在系統允許的波長范圍內對其進行相應的設置。系統允許的波長范圍根據儀器型號的不同有所不同。
在光譜帶寬一欄中，系統設置為手動，即根據測量需要對出射、入射狹縫寬度進行相應的設置。
系統默認增益為1，若信號較弱，可適當選擇增益（1~4）。
列印，即根據提示對話框，列印當前圖譜。
退出系統，當結束系統測量，選擇此項，根據提示退出光柵光譜儀操作系統。
3.1.2.2 測量方式
測量方式菜單中包括光譜掃描、基線掃描和時間掃描等項。其中，
光譜掃描，即根據當前參數設置對當前光譜進行記錄。
基線掃描，當選擇了透過率測量方式時，在光譜掃描之前首先要對系統進行基線掃描以記錄系統當前狀態，在進行基線掃描時，狀態欄顯示值一般應在0~4095之間。
時間掃描，即在當前參數設置情況下，對當前波長進行時間記錄。
3.1.2.3 數據處理
在數據處理菜單中包括刻度擴展、局部放大、峰值檢索、峰值顯示、讀取數據、光譜平滑、光譜微分和光譜運算等項。其中，
刻度擴展，指對當前橫、縱坐標的起始、終止刻度在系統允許的范圍內進行相應的放大或縮小。點擊此項功能將彈出如圖6所示對話框。
局部放大，指對當前圖譜文件進行部分放大。
峰值檢索，指讀當前圖譜文件中一定范圍內的峰值進行檢索並將結果顯示出來。點擊此項彈出如圖7所示對話框，提示輸入峰值高度，輸入峰值高度後，點擊確定即可。
讀取數據，即讀取當前圖譜的橫、縱坐標數據，可選擇列表方式或游標讀取方式。
光譜平滑，點擊此項系統將對當前圖譜文件進行平滑處理，以去掉雜訊或過小的峰值，來方便圖譜的讀取或辨別。
光譜微分，點擊此項功能可對當前圖譜進行一至四次微分。
光譜運算，點擊此項系統彈出提示對話框，提示選擇當前圖譜與任意常數的加、減、乘、除四則運算。
3.1.2.4 系統操作
系統操作菜單中主要包括波長檢索、波長校正、系統復位和系統設置等項。其中，
波長檢索，點擊此項系統彈出如圖8所示波長檢索對話框，提示輸入目的波長，波長范圍為系統允許波長范圍內的任意波長值。
波長線性校正，當對光柵光譜議儀器系統檢測發現系統波長值與准確波長不對應時，可通過此項對系統波長進行校正，在對話框中輸入系統值與實際波長值的差值，點擊確定即可。
系統復位，當儀器在運行過程中發現有不正常現象出現時，可點擊此項對系統進行重新復位，以消除影響。
系統設置，即系統調試時用到的一些數據，用戶不可更改。
3.1.2.5 幫助
幫助菜單中提供了廠商及儀器版本信息。
3.1.3 工具欄的使用
工具欄中主要包括新建、打開、保存、列印、光譜掃描、參數設置、波長檢索、讀取數據、峰值檢索、刻度擴展、屏幕刷新和停止等項。其中，
新建、打開、保存、列印、和參數設置等項包含於菜單欄的「文件」菜單中；光譜掃描包含於菜單欄的「測量方式」菜單中；波長檢索包含於菜單欄中的「系統操作」菜單中；讀取數據、峰值檢索和刻度擴展包含於菜單欄中的「數據處理」菜單中。
屏幕刷新，即刷新當前圖譜屏幕顯示以清除數據標注的字元。
停止，點擊此項，系統將停止當前操作。
3.1.4 退出系統與關機
當系統測試結束後，將出射、入射狹縫調節至0.1mm左右，若有負高壓系統，則將負高壓調節至零。點擊菜單欄中「文件\退出系統」，按照提示關閉電源退出儀器操作系統。
3.2 CCD操作系統
3.2.1 開機於系統復位
確認光柵光譜儀已經正確連接並打開電源。
在WINDOWS操作系統中，從「開始」——「程序」——「WDS系列光柵光譜儀」中執行相應的CCD可執行程序，或雙擊桌面上的快捷方式，啟動系統操作程序。
在系統初始化過程後應有波長復位正確的提示，然後按「確定」進入系統操作主界面。
3.2.2 菜單欄中使用
系統菜單欄中包括文件、採集、數據處理、系統操作和幫助五項內容。下面分別進行介紹。
3.2.2.1 文件
文件菜單中包括新建、打開、存檔、測量參數、列印和退出系統等項。其中，
新建，即清除當前圖譜文件並重新建立一個圖譜文件。
打開，即打開已存圖譜文件，可根據系統提示選擇文件所在路徑。
存檔，即保存當前圖譜文件，可根據系統提示選擇文件保存路徑。
測量參數，即根據測量需對系統參數進行相應的設置，通常情況下採取默認值即可。
列印，即根據提示對話框，列印當前圖譜。
退出系統，當結束系統測量，選擇此項，根據提示退出光柵光譜儀操作系統。
3.2.2.2 採集
採集菜單中包括一次採集、連續採集和門值設置等項。其中，
一次採集，即在當前中心波長對當前光譜進行一次性記錄。
連續採集，即在當前中心波長對當前光譜進行連續性記錄，時時刷新。
門值設置，系統默認門值設置為-1，當要去除較小的峰值時，可通過設置門值來進行限制。
3.2.2.3 數據數理
數據處理菜單中包括讀取數據、光譜平滑、峰值檢索、刻度擴展、顯示光譜參數、像元波長轉換和譜線運算等項。其中，
讀取數據，即讀取當前圖譜的橫、縱坐標數據，可選擇列表方式或游標讀取方式。
光譜平滑，點擊此項系統將對當前圖譜文件進行平滑處理，以去掉雜訊火過小的峰值，來方便圖譜的讀取或辨別。
峰值檢索，指讀當前圖譜文件中一定范圍內的峰值進行檢索並將結果顯示出來。點擊此項彈出對話框，提示輸入峰值高度，輸入峰值高度後，點擊確定即可。
刻度擴展，指對當前橫、縱坐標的起始、終止刻度在系統允許的范圍內進行相應的放大或縮小。點擊此項功能將彈出對話框。
顯示光譜參數，即顯示當前光譜的測量參數。
像元波長轉換，即選擇將系統操作界面的橫坐標用像元或波長的方式顯示。
譜線運算，即對當前光譜的與常數加、減、乘、除四則運算。
3.2.2.4 系統操作
系統操作菜單中主要包括檢索儀器中心波長、檢索譜線中心波長、零點波長校正、系統參數設置和系統復位等項。其中，
檢索儀器中心波長，即將操作系統界面顯示的中心波長檢索至目的波長處。
檢索譜線中心波長，即若當前顯示的圖譜文件中心波長非儀器當前中心波長時，用此項功能將儀器中心波長檢索值譜線中心波長。
零點波長校正，當對光柵光譜儀器系統檢測發現系統波長值與准確波長不對應時，可通過此項對系統波長進行校正，在對話框中輸入系統值與實際波長值的差值，點擊確定即可。
系統參數設置，即系統調試時用到的一些數據，用戶不可更改。
系統復位，當儀器在運行過程中發現有不正常現象出現時，可點擊此項對系統進行重新復位，以消除影響。
3.2.3 工具欄的使用
工具欄中主要包括新建、打開、保存、列印、波長檢索、參數設置、讀取數據、峰值檢索、刻度擴展、放大、縮小和屏幕刷新等項。其中，
新建、打開、保存、列印和參數設置等項包含於菜單欄的「文件」菜單中；波長檢索包含於菜單欄中的「系統操作」菜單中；讀取數據、峰值檢索和刻度擴展包含於菜單欄中的「數據處理」菜單中；一次採集和連續採集包含於「採集」菜單中。
屏幕刷新，即刷新當前圖譜屏幕顯示以清除數據標注的字元。
停止，點擊此項，系統將停止當前操作。
3.2.4 退出系統與關機
當系統測試結束後，將入射狹縫調節至0.1mm左右，點擊菜單欄中「文件\退出系統」，按照提示關閉電源退出儀器操作系統。
四、實驗內容和步驟：
1、開機之前，請認真檢查光柵光譜儀的各個部分（單色儀主機、電控箱、接受單元、計算機、）連線是否正確，保證准確無誤。
為了保證儀器的性能指標和壽命，在每次使用完畢，將入射狹縫寬度、出射狹縫寬度分別調節到0.1mm左右。
在儀器系統復位完畢後，根據測試和實驗的要求分別調節入射狹縫寬度、出射狹縫寬度到合適的寬度。
2、接收單元
WDS系列多功能光柵光譜儀根據儀器型號的不同配有光電倍增管、CCD、硫化鉛、鉭酸鋰、TGS等不同接收單元。
注意，若採用光電倍增管作為接收單元，不一定要在光電倍增管加有負高壓的情況下，使其暴露在強光下（包括自然光）。在使用結束後，一定要注意調節負高壓旋鈕使負高壓歸零，然後再關閉電控箱。
3、狹縫調節
儀器的入射狹縫和出射狹縫均為直狹縫，寬度范圍0~2mm連續可調，順時針旋轉為狹縫寬度加大，反之減小。每旋轉一周狹縫寬度變化0.5mm，最大調節寬度為2mm。為延長使用壽命，狹縫寬度調節時應注意最大不要超過2mm。儀器測量完畢或平常不使用時，狹縫最好調節到0.1mm05mm左右。
4、電控箱的使用
電控箱包括電源、信號放大、控制系統和光源系統（氘燈和鎢燈可選件，不包括在光譜儀器的標准配置中）。在運行儀器操作軟體前一定要確認所有的連接線正確連接且已經打開電控箱的開關。
5、程序安裝（如已安裝好，則跳過）
儀器的參數設置和測量均由計算機來完成。因此在使用前必須先安裝WDS系列多功能光柵光譜儀器中文操作軟體。
將隨儀器配備的WDS系列多功能光柵光譜儀器操作軟體系統安裝光碟放入光碟機中，執行其中的SETUP程序，即開始進行安裝，安裝過程大約一分鍾。
系統安裝結束後，將自動在WINDOWS系統的「開始」—「程序」中建立「WDS系列光柵光譜儀」一項。執行其中的可執行程序即可運行操作系統。
6、採用標准光譜燈進行波長校準
光柵光譜儀由於運輸過程中震動等各種原因，可能會使波長准確度產生偏差，因此在第一次使用前用已知的光譜線來校準儀器的波長准確度。在平常使用中，也應定期檢查儀器的波長准確度。
檢查儀器波長准確度可用氘燈、鈉燈（標准值為589.0nm和589.6nm）、汞燈以及其它已知光譜線的來源來進行。
6.1 用氘燈譜線校準
利用氘燈的兩根譜線的波長值（標准值為486.0nm和656.0nm）來進行校準儀器。根據能量信號大小手工調節入射狹縫和出射狹縫，掃描氘燈光譜。如果波長有偏差，用「零點波長校正」功能進行校正。
6.2 用鈉燈譜線校準
利用鈉燈的兩根譜線的波長值（標准值為589.0nm和589.6nm）來進行校準儀器。根據能量信號大小手工調節入射狹縫和出射狹縫，掃描鈉燈光譜。如果波長有偏差，用「零點波長校正」功能進行校正。
6.3 用汞燈譜線校準
利用汞燈的五根譜線的波長值（標准值為404.7nm、435.8nm、546.1nm、577.0nm、579.0nm）來進行校準儀器。根據能量信號大小手工調節入射狹縫和出射狹縫，掃描汞燈光譜。如果波長有偏差，用「波長線性校正」功能進行校正。
7、分別掃描不同光源的光譜
調節光源，使其在單色義的波長范圍內有最大的輸出。根據測量對系統參數進行相應的設置。根據測量學要對出射、入射狹縫寬度進行相應的設置。按「3 軟體系統」進行操作。
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⑤ 什麼儀器可以快速分析金屬化合物、混合物粉末中的金屬含量
金屬成分分析儀是採用XRF（熒光光譜分析）原理，對金屬材料成分進行快速檢測的儀器。由於X射線波長很短，因此是不可見的。但它照射到某些化合物如磷、鉑氰化鋇、硫化鋅鎘、鎢酸鈣等時，由於電離或激發使原子處於激發狀態，原子回到基態過程中，由於價電子的能級躍遷而輻射出可見光或紫外線，這就是熒光。X射線使物質發生熒光的作用叫熒光作用，熒光強弱與X射線量成正比。該儀器能夠快速分析金屬材料成分及含量。
主要功能
可用於檢測碳鋼中的鉻含量，檢測精度可達到0.03%的含量 - 用於評估流速促進型腐蝕(FAC)的情況。
可適應高達800° F的檢測溫度。
可用於分析鐵基合金、鎳基合金、鈷基合金、銅基合金、鈦基合金、混雜合金。
可以十分有把握地識別各種復雜的合金，例如304與321， P91與9鉻，7級鈦與純鈦。
對6061/6063鋁合金具有非凡的識別能力與分析效果。
主要優點：
便捷，友好的軟體界面：三種操作模式選擇，化學分析，等級鑒定和快速合格/不合格分類；
設計：尖嘴部分的設計符合人體工學，便於使用在一些很難測試的地方或焊接點；
通用性：交流電源，便利的操作平台，並可升級到個人電腦的桌面；
智能分析：對不規則或很小的樣品測試進行自動補償，包括焊接點的細條、縫、拐角；
快速：2-3秒內身份等級鑒定；
高效：無資源消耗及防止擴散費用，小型X-射線管技術消除了對付放射性材料的費用和麻煩；
美國伊諾斯公司是一家專業生產和製造通用型和高性能的攜帶型X-射線熒光分析儀(XRF)的全球知名公司。Alpha系列分析儀為目前市場上提供體積最小、分析速度最快、功能最多、精度最高的對材料進行可靠性鑒別(PMI)和確認的攜帶型多用途掌上型X射線熒光光譜分析儀，該分析儀可適用於任何場所，從而確保材料質量，確保材料無放射性， 在對幾種常見的合金進行分析時，測試時間可持續20秒鍾。快速分析持續測試間是2至3秒。該分析儀重量輕（1.6 kg），操作簡單，一鍵式按鈕、長時間工作無疲勞感，可適用於-10°C至+50°C任何場所。該分析儀帶有手握把和可以延伸的探頭，因此可以用來探測管道內部、焊縫、法蘭及其它平常難以接觸的位置的合金材料。
主要特點編輯
合金分析儀的主要特點：
1.它使用極小的X射線管代替放射性同位素來解決更換資源和放射性擴散的問題。
2.無危險原料限制，可以應用到任何地方或者隨意運輸。
3.合金分析儀具有小型的電腦軟體平台，對合金分析非常靈活。用戶可自編輯升級的元數庫，用戶可自定義的分析和分類方法，多種數據輸入，直接下載結果到資料庫及擴展程序。X-射線管、小型電腦軟體，高分辯探測器使合金分析儀成為最先進，最高效，操作最簡單的合金分析系統。
4.合金分析儀能夠記憶所有元素的光譜，這個強大的分析儀能夠解決最困難的分析問題，同時它又是一個全天候直觀、快速的合金分析儀。
智能光束 (SmartBeam)技術：
智能光束 (SmartBeam)技術既X射線管專門技術和多光束過濾技術，使合金分析儀達到非凡的穩定性、檢測速度和使用壽命並具有極好的升級潛力。智能分析使其對不規則或很小的樣品測試進行自動補償，包括焊接點的細條、縫、拐角。選用智能光束技術Ti ,V 精度可達 0.05-0.5%。
復雜合金等級的鑒定：
可用於鑒定數千個不同的合金等級。標准庫包含了250種合金，用戶可自定義300種合金，可根據各種合金的通用名稱、統一標准編號（UNS）、美國機械工程師協會編號（ASME）、以及軍事規范等各種屬性進行檢索。
尖端PDA技術：
標准合金元素：
21種標准元素 Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Zr, Nb, Mo, Hf, W, Ta, Re, Pb, Ag, Sn, Bi, & Sb。Innov-X ALPHA-2000合金分析儀所配置的標准元素還可以增加或更換。
合金家族：
鐵合金系列：不銹鋼、鉻/鉬合金鋼、低合金鋼；
鎳基合金系列：鎳合金、鎳/鈷超合金；
鈷基合金系列：
鈦基合金系列：
銅基系列：青銅、黃銅、銅鎳合金；
高溫合金：鉬鎢合金；
鋁合金
⑥ 金屬含量檢測的儀器叫什麼
應該叫金屬光譜分析儀吧。在工作過的老廠見過，進口的，價格可能不菲吧。
⑦ 光譜分析儀可以測試鋼材化學成分嗎
直讀光譜儀就是做金屬中化學成分分析的，主流產品為CCD全譜直讀光譜儀。穩定速度快，分析准確，擴展性能優越。
⑧ 鋼材的檢測項目和使用儀器
檢測項目：拉伸試驗和冷彎試驗
使用儀器：千分尺、游標卡尺、鋼板尺、試驗機、標距打點機
⑨ 各位大神，請問檢測金屬材料元素成分的儀器叫什麼名字
材料檢測有很多儀器，常見的有XRD, TEM, SEM, EDS